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Journal of Electrical Engineering
Band 65 (2014): Heft 5 (September 2014)
Uneingeschränkter Zugang
Far Field Measurements of Phc Led Prepared by E–Beam Lithography
Pavol Hronec
Pavol Hronec
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Kováč, Jaroslav
05. Nov. 2014
Journal of Electrical Engineering
Band 65 (2014): Heft 5 (September 2014)
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Online veröffentlicht:
05. Nov. 2014
Seitenbereich:
309 - 312
Eingereicht:
15. Juli 2014
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2014-0050
Schlüsselwörter
LED
,
Electron beam direct write lithography
,
photonic crystal
,
far field
,
light extraction
© Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, Slovak University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.