Otwarty dostęp

Enhanced CNN Based Electron Microscopy Image Segmentation

M. Leena Silvoster
National Institute of Technology, Calicut, Kerala, India
V. K. Govindan
National Institute of Technology, Calicut, Kerala, India
eISSN:
1314-4081
ISSN:
1311-9702
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Computer Sciences, Information Technology