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Enhanced CNN Based Electron Microscopy Image Segmentation

INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO
M. Leena Silvoster
National Institute of Technology, Calicut, Kerala, India
V. K. Govindan
National Institute of Technology, Calicut, Kerala, India
eISSN:
1314-4081
ISSN:
1311-9702
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Computer Sciences, Information Technology