Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Measurement Science Review
Tom 17 (2017): Zeszyt 5 (October 2017)
Otwarty dostęp
Interferometric Surface Relief Measurements with Subnano/Picometer Height Resolution
Evgeny Sysoev
Evgeny Sysoev
,
Sergey Kosolobov
Sergey Kosolobov
,
Rodion Kulikov
Rodion Kulikov
,
Alexander Latyshev
Alexander Latyshev
,
Sergey Sitnikov
Sergey Sitnikov
oraz
Ignat Vykhristyuk
Ignat Vykhristyuk
| 23 paź 2017
Measurement Science Review
Tom 17 (2017): Zeszyt 5 (October 2017)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
23 paź 2017
Zakres stron:
213 - 218
Otrzymano:
03 mar 2017
Przyjęty:
18 wrz 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/msr-2017-0025
Słowa kluczowe
nanorelief
,
monatomic steps
,
low-coherence
,
white light interferometer
,
subnanometer resolution
© 2017 Evgeny Sysoev et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.