Otwarty dostęp

Development of Mathematical Models for Detecting Micron Scale Volumetric Defects in Thin Film Coatings

G. Gaigals

G. Gaigals

Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Gaigals, G.
, 
M. Donerblics

M. Donerblics

Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Donerblics, M.
 oraz 
G. Dreifogels

G. Dreifogels

Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Dreifogels, G.
  
20 maj 2016
Development of Mathematical Models for Detecting Micron Scale Volumetric Defects in Thin Film Coatings's Cover Image
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Zacytuj
Pobierz okładkę
Data publikacji: 20 maj 2016
Zakres stron: 38 - 47
DOI: https://doi.org/10.1515/lpts-2016-0012
Słowa kluczowe
© 2016 G. Gaigals et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
6 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Fizyka, Fizyka techniczna i stosowana
Kanał RSS czasopisma