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Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Volumen 53 (2016): Edición 2 (Abril 2016)
Acceso abierto
Development of Mathematical Models for Detecting Micron Scale Volumetric Defects in Thin Film Coatings
G. Gaigals
G. Gaigals
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Gaigals, G.
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M. Donerblics
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G. Dreifogels
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Dreifogels, G.
20 may 2016
Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Volumen 53 (2016): Edición 2 (Abril 2016)
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Publicado en línea:
20 may 2016
Páginas:
38 - 47
DOI:
https://doi.org/10.1515/lpts-2016-0012
Palabras clave
deconvolution
,
compressive sampling
,
ℓ minimization
,
numeric simulation
,
thin film coatings
© 2016 G. Gaigals et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
