Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 69 (2018): Zeszyt 1 (January 2018)
Otwarty dostęp
Scanning electron microscope fine tuning using four-bar piezoelectric actuated mechanism
Khaled S. Hatamleh
Khaled S. Hatamleh
,
Qais A. Khasawneh
Qais A. Khasawneh
,
Adnan Al-Ghasem
Adnan Al-Ghasem
,
Mohammad A. Jaradat
Mohammad A. Jaradat
,
Laith Sawaqed
Laith Sawaqed
oraz
Mohammad Al-Shabi
Mohammad Al-Shabi
| 07 mar 2018
Journal of Electrical Engineering
Tom 69 (2018): Zeszyt 1 (January 2018)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
07 mar 2018
Zakres stron:
24 - 31
Otrzymano:
15 lis 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/jee-2018-0003
Słowa kluczowe
piezoelectric
,
inverse kinematics optimization
,
four-bar mechanism
,
power minimization
© 2018 Khaled S. Hatamleh et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.