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Journal of Electrical Engineering
Édition 69 (2018): Edition 1 (January 2018)
Accès libre
Scanning electron microscope fine tuning using four-bar piezoelectric actuated mechanism
Khaled S. Hatamleh
Khaled S. Hatamleh
,
Qais A. Khasawneh
Qais A. Khasawneh
,
Adnan Al-Ghasem
Adnan Al-Ghasem
,
Mohammad A. Jaradat
Mohammad A. Jaradat
,
Laith Sawaqed
Laith Sawaqed
et
Mohammad Al-Shabi
Mohammad Al-Shabi
| 07 mars 2018
Journal of Electrical Engineering
Édition 69 (2018): Edition 1 (January 2018)
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Publié en ligne:
07 mars 2018
Pages:
24 - 31
Reçu:
15 nov. 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/jee-2018-0003
Mots clés
piezoelectric
,
inverse kinematics optimization
,
four-bar mechanism
,
power minimization
© 2018 Khaled S. Hatamleh et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.