Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 66 (2015): Zeszyt 2 (March 2015)
Otwarty dostęp
Maximum Temperature Detection System for Integrated Circuits
Maciej Frankiewicz
Maciej Frankiewicz
oraz
Andrzej Kos
Andrzej Kos
| 15 maj 2015
Journal of Electrical Engineering
Tom 66 (2015): Zeszyt 2 (March 2015)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
15 maj 2015
Zakres stron:
79 - 84
Otrzymano:
11 mar 2014
DOI:
https://doi.org/10.1515/jee-2015-0012
Słowa kluczowe
TCO
,
DFS
,
VLSI
,
CMOS
© Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, Slovak University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Maciej Frankiewicz
AGH University of Science and Technology, Department of Electronics, Mickiewicza 30, 30-059 Cracow, Poland
Andrzej Kos
AGH University of Science and Technology, Department of Electronics, Mickiewicza 30, 30-059 Cracow, Poland