Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Data and Information Science
Tom 2 (2017): Zeszyt 1 (February 2017)
Otwarty dostęp
Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research
Anthony F.J. van Raan
Anthony F.J. van Raan
| 18 lut 2017
Journal of Data and Information Science
Tom 2 (2017): Zeszyt 1 (February 2017)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Artykuł
Ilustracje i tabele
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Article Category:
Expert Review
Data publikacji:
18 lut 2017
Zakres stron:
13 - 50
Otrzymano:
23 lis 2016
Przyjęty:
03 gru 2016
DOI:
https://doi.org/10.1515/jdis-2017-0002
Słowa kluczowe
Patent citations
,
Scientific non-patent references
,
Inventor-author relations
,
Bibliometric mapping
,
Science and technology interface
,
Research evaluation
,
Technology-relevant publications
© 2017 Anthony F.J. van Raan
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Anthony F.J. van Raan
Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden University
Leiden, The Netherlands