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Patent Citations Analysis and Its Value in Research Evaluation: A Review and a New Approach to Map Technology-relevant Research

INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO

Cita

Anthony F.J. van Raan
Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden UniversityLeiden, The Netherlands
eISSN:
2543-683X
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Computer Sciences, Information Technology, Project Management, Databases and Data Mining