Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Cybernetics and Information Technologies
Tom 15 (2015): Zeszyt 6 (December 2015)
Otwarty dostęp
Three-Dimensional Image Measurement by Pattern Projection Using a Single Observation Image
Ke Sun
Ke Sun
oraz
Cunwei Lu
Cunwei Lu
| 30 gru 2015
Cybernetics and Information Technologies
Tom 15 (2015): Zeszyt 6 (December 2015)
Special Issue on Logistics, Informatics and Service Science
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
30 gru 2015
Zakres stron:
29 - 45
DOI:
https://doi.org/10.1515/cait-2015-0065
Słowa kluczowe
Three-dimensional shape measurement
,
optimal intensity-modulation pattern projection
© 2015 Ke Sun et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Ke Sun
Guilin University of Electronic Technology, Guilin, 541004 China
Cunwei Lu
Fukuoka Institute of Technology 3-30-1 Wajirohigashi, Higashi-ku, Fukuoka 811-0295, Japan