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Cybernetics and Information Technologies
Volumen 15 (2015): Edición 6 (December 2015)
Acceso abierto
Three-Dimensional Image Measurement by Pattern Projection Using a Single Observation Image
Ke Sun
Ke Sun
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Cunwei Lu
Cunwei Lu
| 30 dic 2015
Cybernetics and Information Technologies
Volumen 15 (2015): Edición 6 (December 2015)
Special Issue on Logistics, Informatics and Service Science
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Publicado en línea:
30 dic 2015
Páginas:
29 - 45
DOI:
https://doi.org/10.1515/cait-2015-0065
Palabras clave
Three-dimensional shape measurement
,
optimal intensity-modulation pattern projection
© 2015 Ke Sun et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Ke Sun
Guilin University of Electronic Technology, Guilin, 541004 China
Cunwei Lu
Fukuoka Institute of Technology 3-30-1 Wajirohigashi, Higashi-ku, Fukuoka 811-0295, Japan