Accesso libero

On correction factors for profile measurements with small solid state detectors and with small ionization chambers

Suresh Poudel

Suresh Poudel

Amity School of Applied Sciences, Amity UniversityIndia
Cerca questo autore su
Sciendo|Google Scholar
Poudel, Suresh
, 
Asita Kulshreshtha

Asita Kulshreshtha

Amity School of Applied Sciences, Amity UniversityIndia
Cerca questo autore su
Sciendo|Google Scholar
Kulshreshtha, Asita
, 
Golam Abu Zakaria

Golam Abu Zakaria

Klinikum Oberberg, University of CologneGermany
Cerca questo autore su
Sciendo|Google Scholar
Zakaria, Golam Abu
 e 
Günther H. Hartmann

Günther H. Hartmann

German Cancer Research Center (DKFZ)Heidelberg, Germany
Cerca questo autore su
Sciendo|Google Scholar
Hartmann, Günther H.
  
02 apr 2025
On correction factors for profile measurements with small solid state detectors and with small ionization chambers's Cover Image
INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO
Articolo precedente
Articolo Successivo
Cita
Scarica la copertina
Pubblicato online: 02 apr 2025
Pagine: 51 - 61
Ricevuto: 31 lug 2024
Accettato: 20 gen 2025
DOI: https://doi.org/10.2478/pjmpe-2025-0005
Parole chiave
© 2025 Suresh Poudel et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Poudel, Suresh
Amity School of Applied Sciences, Amity UniversityIndia
Kulshreshtha, Asita
Amity School of Applied Sciences, Amity UniversityIndia
Zakaria, Golam Abu
Klinikum Oberberg, University of CologneGermany
Hartmann, Günther H.
German Cancer Research Center (DKFZ)Heidelberg, Germany
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Medicina, Ingegneria biomedica, Fisica, Fisica tecnica ed applicata, Fisica medica
Feed RSS della rivista