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Non-destructive Dielectric Measurements and Calibration for Thin Materials Using Waveguide-Coaxial Adaptors

K. Y. You

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You, K. Y.
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Z. Abbas

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M. F. A. Malek

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E. M. Cheng

E. M. Cheng

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Cheng, E. M.
  
06 mar 2014
Non-destructive Dielectric Measurements and Calibration for Thin Materials Using Waveguide-Coaxial Adaptors's Cover Image
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Pubblicato online: 06 mar 2014
Pagine: 16 - 24
DOI: https://doi.org/10.2478/msr-2014-0003
Parole chiave
This content is open access.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Ingegneria, Elettrotecnica, Ingegneria dell'automazione, metrologia e collaudo
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