Accesso libero

Comparison of electrical properties of CuO/n-Si contacts with Cu/n-Si

INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO

Cita

Reşit Özmenteş
Institute of Science Van YuzuncuYil UniversityVan, Turkey
Cabir Temirci
Department of Physics, Faculty of Sciences, Van YuzuncuYil UniversityVan, Turkey
eISSN:
2083-134X
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Materials Sciences, other, Nanomaterials, Functional and Smart Materials, Materials Characterization and Properties