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Journal of Artificial Intelligence and Soft Computing Research
Volume 9 (2019): Numero 1 (January 2019)
Accesso libero
A MLMVN with Arbitrary Complex-Valued Inputs and a Hybrid Testability Approach for the Extraction of Lumped Models Using FRA
Igor Aizenberg
Igor Aizenberg
,
Antonio Luchetta
Antonio Luchetta
,
Stefano Manetti
Stefano Manetti
e
Maria Cristina Piccirilli
Maria Cristina Piccirilli
| 20 ago 2018
Journal of Artificial Intelligence and Soft Computing Research
Volume 9 (2019): Numero 1 (January 2019)
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Pubblicato online:
20 ago 2018
Pagine:
5 - 19
Ricevuto:
28 mag 2017
Accettato:
19 ott 2017
DOI:
https://doi.org/10.2478/jaiscr-2018-0021
Parole chiave
Analog circuits
,
Complex-valued neural networks
,
Lumped models
,
Testability
© 2019 Igor Aizenberg et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Igor Aizenberg
Manhattan College,
New York
Antonio Luchetta
Dept. of Information Engineering, University of Florence
Firenze, Italy
Stefano Manetti
Dept. of Information Engineering, University of Florence
Firenze, Italy
Maria Cristina Piccirilli
Dept. of Information Engineering, University of Florence
Firenze, Italy