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Measurement Science Review
Volume 15 (2015): Numero 1 (February 2015)
Accesso libero
Correction of Scanning Steps to Improve Accuracy in Interferometric Profilometer
E. Sysoev
E. Sysoev
,
R. Kulikov
R. Kulikov
,
I. Vykhristyuk
I. Vykhristyuk
e
Yu. Chugui
Yu. Chugui
| 11 mar 2015
Measurement Science Review
Volume 15 (2015): Numero 1 (February 2015)
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Pubblicato online:
11 mar 2015
Pagine:
9 - 12
Ricevuto:
03 ott 2014
Accettato:
24 gen 2015
DOI:
https://doi.org/10.1515/msr-2015-0002
Parole chiave
Phase shifting interferometry
,
nanorelief measurement
,
measurement error
© E. Sysoev, R. Kulikov, I. Vykhristyuk, Yu. Chugui
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.