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Measurement Science Review
Édition 15 (2015): Edition 1 (February 2015)
Accès libre
Correction of Scanning Steps to Improve Accuracy in Interferometric Profilometer
E. Sysoev
E. Sysoev
,
R. Kulikov
R. Kulikov
,
I. Vykhristyuk
I. Vykhristyuk
et
Yu. Chugui
Yu. Chugui
| 11 mars 2015
Measurement Science Review
Édition 15 (2015): Edition 1 (February 2015)
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Publié en ligne:
11 mars 2015
Pages:
9 - 12
Reçu:
03 oct. 2014
Accepté:
24 janv. 2015
DOI:
https://doi.org/10.1515/msr-2015-0002
Mots clés
Phase shifting interferometry
,
nanorelief measurement
,
measurement error
© E. Sysoev, R. Kulikov, I. Vykhristyuk, Yu. Chugui
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.