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Materials Science-Poland
Édition 36 (2018): Edition 1 (March 2018)
Accès libre
Thin Si
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N
y
C
z
films deposited from hexamethyldisilazane by RF PECVD technique for optical filter applications
Katarzyna Oleśko
Katarzyna Oleśko
,
Hieronim Szymanowski
Hieronim Szymanowski
,
Maciej Gazicki-Lipman
Maciej Gazicki-Lipman
,
Jacek Balcerzak
Jacek Balcerzak
,
Witold Szymań Ski
Witold Szymań Ski
,
Wojciech Pawlak
Wojciech Pawlak
et
Anna Sobczyk-Guzenda
Anna Sobczyk-Guzenda
| 18 mai 2018
Materials Science-Poland
Édition 36 (2018): Edition 1 (March 2018)
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Publié en ligne:
18 mai 2018
Pages:
56 - 68
Reçu:
13 mars 2017
Accepté:
08 déc. 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2017-0109
Mots clés
HMDSN
,
PECVD
,
refractive index
,
chemical structure
,
adhesion
© 2018
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.