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Advances in Materials Science
Volumen 10 (2010): Edición 2 (June 2010)
Acceso abierto
Temperature measurement using a Ch
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/porous silicon/Si structure encapsulated in a CO
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rich environment
A. Chiali
A. Chiali
,
N. Ghellai
N. Ghellai
,
N. Gabouze
N. Gabouze
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N. Sari
N. Sari
| 26 ago 2010
Advances in Materials Science
Volumen 10 (2010): Edición 2 (June 2010)
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Publicado en línea:
26 ago 2010
Páginas:
4 - 10
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10077-010-0005-1
Palabras clave
porous silicon
,
temperature sensor
,
carbon dioxide
This content is open access.