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Measurement Science Review
Volumen 10 (2010): Edición 5 (October 2010)
Acceso abierto
Measurement of nanopatterned surfaces by real and reciprocal space techniques
P. Siffalovic
P. Siffalovic
,
K. Vegso
K. Vegso
,
M. Jergel
M. Jergel
,
E. Majkova
E. Majkova
,
J. Keckes
J. Keckes
,
G. Maier
G. Maier
,
M. Cornejo
M. Cornejo
,
B. Ziberi
B. Ziberi
,
F. Frost
F. Frost
,
B. Hasse
B. Hasse
y
J. Wiesmann
J. Wiesmann
| 21 dic 2010
Measurement Science Review
Volumen 10 (2010): Edición 5 (October 2010)
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Publicado en línea:
21 dic 2010
Páginas:
153 - 156
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10048-010-0027-1
Palabras clave
AFM
,
GISAXS
,
nanostructures
,
ion-beam sputtering
This content is open access.