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Measurement Science Review
Volume 10 (2010): Numero 5 (October 2010)
Accesso libero
Measurement of nanopatterned surfaces by real and reciprocal space techniques
P. Siffalovic
P. Siffalovic
,
K. Vegso
K. Vegso
,
M. Jergel
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E. Majkova
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J. Keckes
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G. Maier
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M. Cornejo
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B. Ziberi
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F. Frost
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B. Hasse
B. Hasse
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J. Wiesmann
J. Wiesmann
| 21 dic 2010
Measurement Science Review
Volume 10 (2010): Numero 5 (October 2010)
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Pubblicato online:
21 dic 2010
Pagine:
153 - 156
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10048-010-0027-1
Parole chiave
AFM
,
GISAXS
,
nanostructures
,
ion-beam sputtering
This content is open access.