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Automatic Detection of Chip Pin Defect in Semiconductor Assembly Using Vision Measurement

Shengfang Lu

Shengfang Lu

  • Artificial intelligence Industrial Technology Research Institute, Nanjing Institute of TechnologyNanjing, China
  • Jiangsu Engineering Research Center of IntelliSense Technology and System, Nanjing Institute of TechnologyNanjing, China
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Lu, Shengfang
, 
Jian Zhang

Jian Zhang

Shool of Information and Communication Engineering, Nanjing Institute of TechnologyNanjing, China
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Zhang, Jian
, 
Fei Hao

Fei Hao

Shool of Mechanical Engineering, Nanjing Institute of TechnologyNanjing, China
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Hao, Fei
 und 
Liangbao Jiao

Liangbao Jiao

  • Artificial intelligence Industrial Technology Research Institute, Nanjing Institute of TechnologyNanjing, China
  • Jiangsu Engineering Research Center of IntelliSense Technology and System, Nanjing Institute of TechnologyNanjing, China
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Jiao, Liangbao
  
05. Aug. 2022
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Online veröffentlicht: 05. Aug. 2022
Seitenbereich: 231 - 240
Eingereicht: 25. Nov. 2021
Akzeptiert: 22. Mai 2022
DOI: https://doi.org/10.2478/msr-2022-0029
Schlüsselwörter
© 2022 Shengfang Lu et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
6 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Elektrotechnik, Mess-, Steuer- und Regelungstechnik
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