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Measurement Science Review
Band 19 (2019): Heft 4 (August 2019)
Uneingeschränkter Zugang
Experimental Measurement of Nanolayers via Electromagnetic, Near Infrared, and Gamma Radiation
Pavel Fiala
Pavel Fiala
,
Karel Bartušek
Karel Bartušek
,
Jarmila Dědková
Jarmila Dědková
,
Radim Kadlec
Radim Kadlec
und
Přemysl Dohnal
Přemysl Dohnal
| 24. Aug. 2019
Measurement Science Review
Band 19 (2019): Heft 4 (August 2019)
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Online veröffentlicht:
24. Aug. 2019
Seitenbereich:
144 - 152
Eingereicht:
25. Feb. 2019
Akzeptiert:
30. Juli 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2019-0020
Schlüsselwörter
Nanomaterials
,
multilayered material
,
resonance
,
periodic system
,
electromagnetic wave
,
X-ray
,
gamma-ray
,
antireflection
,
shielding
© 2019 Pavel Fiala et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Pavel Fiala
SIX Research Center, Brno University of Technology
Brno
Karel Bartušek
Institute of Scientific Instruments of the ASCR v.v.i.,
Brno
Jarmila Dědková
Dept. of Theoretical and Experimental Electrical Engineering, Brno University of Technology
Brno
Radim Kadlec
Dept. of Theoretical and Experimental Electrical Engineering, Brno University of Technology
Brno
Přemysl Dohnal
Dept. of Theoretical and Experimental Electrical Engineering, Brno University of Technology
Brno