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Stereometric analysis of Ta2O5 thin films

Dinara Sobola

Dinara Sobola

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
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Sobola, Dinara
, 
Pavel Kaspar

Pavel Kaspar

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
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Kaspar, Pavel
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Jindrich Oulehla

Jindrich Oulehla

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Ştefan Ţălu

Ştefan Ţălu

Technical University of Cluj-Napoca, The Directorate of Research, Development and Innovation Management (DMCDI)Cluj-Napoca, Romania
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Ţălu, Ştefan
 und 
Nikola Papež

Nikola Papež

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
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Papež, Nikola
  
10. Jan. 2020
Stereometric analysis of Ta2O5 thin films's Cover Image
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Zitieren
COVER HERUNTERLADEN
Online veröffentlicht: 10. Jan. 2020
Eingereicht: 04. Okt. 2018
Akzeptiert: 23. Apr. 2019
DOI: https://doi.org/10.2478/msp-2019-0083
Schlüsselwörter
© 2019 Dinara Sobola et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Sobola, Dinara
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno
Kaspar, Pavel
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno
Oulehla, Jindrich
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno
Ţălu, Ştefan
Technical University of Cluj-Napoca, The Directorate of Research, Development and Innovation Management (DMCDI)Cluj-Napoca, Romania
Papež, Nikola
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
4 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Materialwissenschaft, Materialwissenschaft, andere, Nanomaterialien, Funktionelle und Intelligente Materialien, Charakterisierung und Eigenschaften von Materialien
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