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Materials Science-Poland
AHEAD OF PRINT
Uneingeschränkter Zugang
Stereometric analysis of Ta
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O
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thin films
Dinara Sobola
Dinara Sobola
,
Pavel Kaspar
Pavel Kaspar
,
Jindrich Oulehla
Jindrich Oulehla
,
Ştefan Ţălu
Ştefan Ţălu
und
Nikola Papež
Nikola Papež
| 10. Jan. 2020
Materials Science-Poland
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Online veröffentlicht:
10. Jan. 2020
Seitenbereich:
-
Eingereicht:
04. Okt. 2018
Akzeptiert:
23. Apr. 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2019-0083
Schlüsselwörter
atomic force microscopy
,
stereometric analysis
,
TaO
,
topography
© 2019 Dinara Sobola et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Dinara Sobola
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics Department
Brno
Pavel Kaspar
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics Department
Brno
Jindrich Oulehla
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics Department
Brno
Ştefan Ţălu
Technical University of Cluj-Napoca, The Directorate of Research, Development and Innovation Management (DMCDI)
Cluj-Napoca, Romania
Nikola Papež
Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics Department
Brno