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Materials Science-Poland
Band 36 (2018): Heft 3 (September 2018)
Uneingeschränkter Zugang
Use of scanning area related multiple degradation profiles for AFM assessment of polystyrene/PC
61
BM nanocomposite surface deterioration
Andrzej Sikora
Andrzej Sikora
,
Magdalena Moczała
Magdalena Moczała
und
Bartosz Boharewicz
Bartosz Boharewicz
| 02. Nov. 2018
Materials Science-Poland
Band 36 (2018): Heft 3 (September 2018)
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Online veröffentlicht:
02. Nov. 2018
Seitenbereich:
397 - 402
Eingereicht:
27. März 2017
Akzeptiert:
12. Juni 2018
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2018-0071
Schlüsselwörter
atomic force microscopy
,
surface roughness
,
precise positioning
,
surface degradation
,
polystyrene nanocomposite
© 2018 Andrzej Sikora et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Andrzej Sikora
Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials Science,
Wrocław, Poland
Magdalena Moczała
Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials Science,
Wrocław, Poland
Bartosz Boharewicz
Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials Science,
Wrocław, Poland