Uneingeschränkter Zugang

An FPGA Architecture for Extracting Real-Time Zernike Coefficients from Measured Phase Gradients


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Steven Moser
Embedded Systems Group, University of Kent, Canterbury, United Kingdom
Peter Lee
Embedded Systems Group, University of Kent, Canterbury, United Kingdom
Adrian Podoleanu
Applied Optics Group, University of Kent, Canterbury, United Kingdom
eISSN:
1335-8871
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
6 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Elektrotechnik, Mess-, Steuer- und Regelungstechnik