Otwarty dostęp

Evaluation of AlGaN/GaN heterostructures properties by QMSA and AFM techniques

Adam Szyszka

Adam Szyszka

Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Szyszka, Adam
, 
Mateusz Wośko

Mateusz Wośko

Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Wośko, Mateusz
, 
Bogdan Paszkiewicz

Bogdan Paszkiewicz

Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Paszkiewicz, Bogdan
 oraz 
Marek Tłaczała

Marek Tłaczała

Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Tłaczała, Marek
  
15 gru 2013
Evaluation of AlGaN/GaN heterostructures properties by QMSA and AFM techniques's Cover Image
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Zacytuj
Pobierz okładkę
Data publikacji: 15 gru 2013
Zakres stron: 543 - 547
DOI: https://doi.org/10.2478/s13536-013-0135-3
Słowa kluczowe
© 2013 Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Nauka o materiałach, Nauka o materiałach, inne, Nanomateriały, Funkcjonalne i inteligentne materiały, Charakterystyka i właściwości materiałów
Kanał RSS czasopisma