Otwarty dostęp

Deriving the exchange times for a model of trap-assisted tunnelling

, , ,  oraz   
20 mar 2020

Zacytuj
Pobierz okładkę

The work presents a physical model of trap-assisted tunnelling that allows assessing the impact of traps upon the total current through metal/semiconductor heterostructures. The model is based on expressing the occupation probability of the trapping centres by electrons in terms of thermal and tunnelling capture and emission times, commonly referred to as exchange times. The occupation probabilities calculated in this way are then used to evaluate the generation-recombination rates occurring in the continuity equations.

Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
6 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Inżynieria, Wstępy i przeglądy, Inżynieria, inne