Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Journal of Electrical Engineering
Tom 65 (2014): Zeszyt 2 (March 2014)
Otwarty dostęp
Electrical and Capacitance Diagnostic Techniques as a Support for the Development of Silicon Heterojunction Solar Cells
Miroslav Mikolášek
Miroslav Mikolášek
,
Michal Nemec
Michal Nemec
,
Jaroslav Kováč
Jaroslav Kováč
,
Ladislav Harmatha
Ladislav Harmatha
oraz
Lukáš Minařík
Lukáš Minařík
| 23 kwi 2014
Journal of Electrical Engineering
Tom 65 (2014): Zeszyt 2 (March 2014)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
23 kwi 2014
Zakres stron:
111 - 115
DOI:
https://doi.org/10.2478/jee-2014-0016
Słowa kluczowe
solar cells
,
heterojunction
,
amorphous silicon
,
capacitance diagnostics
,
electrical characterization
© Faculty of Electrical Engineering and Information Technology, Slovak University of Technology
This article is distributed under the terms of the Creative Commons Attribution Non-Commercial License, which permits unrestricted non-commercial use, distribution, and reproduction in any medium, provided the original work is properly cited.