Otwarty dostęp

Identifying grey-rhino in eminent technologies via patent analysis

Shelia X. Wei

Shelia X. Wei

  • School of Information Management, Nanjing UniversityNanjing, China
  • International Joint Informatics Laboratory, Nanjing UniversityNanjing, China
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Wei, Shelia X.
, 
Helena H. Zhang

Helena H. Zhang

School of Cultural Heritage and Information Management, Shanghai UniversityShanghai, China
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Zhang, Helena H.
, 
Howell Y. Wang

Howell Y. Wang

  • School of Information Management, Nanjing UniversityNanjing, China
  • International Joint Informatics Laboratory, Nanjing UniversityNanjing, China
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Wang, Howell Y.
 oraz 
Fred Y. Ye

Fred Y. Ye

  • School of Information Management, Nanjing UniversityNanjing, China
  • International Joint Informatics Laboratory, Nanjing UniversityNanjing, China
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Ye, Fred Y.
  
05 mar 2023
Identifying grey-rhino in eminent technologies via patent analysis's Cover Image
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Zacytuj
Pobierz okładkę
Kategoria artykułu: Research Paper
Data publikacji: 05 mar 2023
Zakres stron: 47 - 71
Otrzymano: 28 sie 2022
Przyjęty: 22 gru 2022
DOI: https://doi.org/10.2478/jdis-2023-0002
Słowa kluczowe
© 2023 Shelia X. Wei et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Informatyka, Technologia informacyjna, Zarządzenie projektami, Bazy danych i eksploracja danych
Kanał RSS czasopisma