Otwarty dostęp

IoT enabled industrial fault monitoring and prediction

Harsh Ranjan

Harsh Ranjan

School of Electrical Engineering, Vellore Institute of TechnologyVellore, India
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Ranjan, Harsh
 oraz 
Abhishek Gudipalli

Abhishek Gudipalli

School of Electrical Engineering, Vellore Institute of TechnologyVellore, India
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Gudipalli, Abhishek
  
06 wrz 2024
IoT enabled industrial fault monitoring and prediction's Cover Image
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Zacytuj
Pobierz okładkę
Kategoria artykułu: Research Article
Data publikacji: 06 wrz 2024
Otrzymano: 22 sie 2021
DOI: https://doi.org/10.2478/ijssis-2024-0031
Słowa kluczowe
© 2024 Harsh Ranjan et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Ranjan, Harsh
School of Electrical Engineering, Vellore Institute of TechnologyVellore, India
Gudipalli, Abhishek
School of Electrical Engineering, Vellore Institute of TechnologyVellore, India
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
1 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Inżynieria, Wstępy i przeglądy, Inżynieria, inne
Kanał RSS czasopisma