Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
Koszyk
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Home
Czasopisma
Materials Science-Poland
Tom 34 (2016): Zeszyt 1 (March 2016)
Otwarty dostęp
High accuracy computational methods for behavioral modeling of thick-film resistors at cryogenic temperatures
Franciszek Balik
Franciszek Balik
oraz
Andrzej Dziedzic
Andrzej Dziedzic
| 27 kwi 2016
Materials Science-Poland
Tom 34 (2016): Zeszyt 1 (March 2016)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Artykuł
Ilustracje i tabele
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Article Category:
Research Article
Data publikacji:
27 kwi 2016
Zakres stron:
212 - 225
Otrzymano:
09 mar 2015
Przyjęty:
21 sty 2016
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2016-0031
Słowa kluczowe
thick-film resistors
,
cryogenic temperature
,
behavioral modeling
© 2016 Wroclaw University of Technology
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.