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Measurement of nanopatterned surfaces by real and reciprocal space techniques

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21 dic 2010
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Siffalovic, P.
Vegso, K.
Jergel, M.
Majkova, E.
Keckes, J.
Maier, G.
Cornejo, M.
Ziberi, B.
Frost, F.
Hasse, B.
Wiesmann, J.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Ingegneria, Elettrotecnica, Ingegneria dell'automazione, metrologia e collaudo