Accesso libero

Critical Values for Testing Location-Scale Hypothesis

  
20 apr 2009
INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO

Cita
Scarica la copertina

Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Ingegneria, Elettrotecnica, Ingegneria dell'automazione, metrologia e collaudo