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Multi-Wavelength Interferometry for Length Measurements Using Diode Lasers

K. Meiners-Hagen

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Meiners-Hagen, K.
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R. Schödel

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F. Pollinger

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Pollinger, F.
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A. Abou-Zeid

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Abou-Zeid, A.
  
20 apr 2009
Multi-Wavelength Interferometry for Length Measurements Using Diode Lasers's Cover Image
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Pubblicato online: 20 apr 2009
Pagine: 16 - 26
DOI: https://doi.org/10.2478/v10048-009-0001-y
Parole chiave
This content is open access.
Meiners-Hagen, K.
Schödel, R.
Pollinger, F.
Abou-Zeid, A.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Ingegneria, Elettrotecnica, Ingegneria dell'automazione, metrologia e collaudo
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