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Materials Science-Poland
Volume 38 (2020): Numero 1 (March 2020)
Accesso libero
Optical characterization of thin Al
2
O
3
layers deposited by magnetron sputtering technique at industrial conditions for applications in glazing
Piotr Dywel
Piotr Dywel
e
Łukasz Skowroński
Łukasz Skowroński
| 08 mag 2020
Materials Science-Poland
Volume 38 (2020): Numero 1 (March 2020)
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Pubblicato online:
08 mag 2020
Pagine:
108 - 115
Ricevuto:
18 ago 2018
Accettato:
19 feb 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2019-0093
Parole chiave
AlO
,
GIMS
,
refractive index
,
light transmittance
,
glazing
© 2020 Piotr Dywel et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Piotr Dywel
Institute of Mathematics and Physics UTP University of Science and Technology
Bydgoszcz, Poland
Łukasz Skowroński
Institute of Mathematics and Physics UTP University of Science and Technology
Bydgoszcz, Poland