Login
Registrieren
Passwort zurücksetzen
Veröffentlichen & Verteilen
Verlagslösungen
Vertriebslösungen
Themen
Allgemein
Altertumswissenschaften
Architektur und Design
Bibliotheks- und Informationswissenschaft, Buchwissenschaft
Biologie
Chemie
Geowissenschaften
Geschichte
Industrielle Chemie
Informatik
Jüdische Studien
Kulturwissenschaften
Kunst
Linguistik und Semiotik
Literaturwissenschaft
Materialwissenschaft
Mathematik
Medizin
Musik
Pharmazie
Philosophie
Physik
Rechtswissenschaften
Sozialwissenschaften
Sport und Freizeit
Technik
Theologie und Religion
Wirtschaftswissenschaften
Veröffentlichungen
Zeitschriften
Bücher
Konferenzberichte
Verlage
Blog
Kontakt
Suche
EUR
USD
GBP
Deutsch
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Warenkorb
Home
Zeitschriften
Materials Science-Poland
Band 38 (2020): Heft 1 (March 2020)
Uneingeschränkter Zugang
Optical characterization of thin Al
2
O
3
layers deposited by magnetron sputtering technique at industrial conditions for applications in glazing
Piotr Dywel
Piotr Dywel
und
Łukasz Skowroński
Łukasz Skowroński
| 08. Mai 2020
Materials Science-Poland
Band 38 (2020): Heft 1 (March 2020)
Über diesen Artikel
Vorheriger Artikel
Nächster Artikel
Zusammenfassung
Referenzen
Autoren
Artikel in dieser Ausgabe
Vorschau
PDF
Zitieren
Teilen
Online veröffentlicht:
08. Mai 2020
Seitenbereich:
108 - 115
Eingereicht:
18. Aug. 2018
Akzeptiert:
19. Feb. 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2019-0093
Schlüsselwörter
AlO
,
GIMS
,
refractive index
,
light transmittance
,
glazing
© 2020 Piotr Dywel et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Piotr Dywel
Institute of Mathematics and Physics UTP University of Science and Technology
Bydgoszcz, Poland
Łukasz Skowroński
Institute of Mathematics and Physics UTP University of Science and Technology
Bydgoszcz, Poland