Accesso libero

Nanoindentation Response Analysis of Thin Film Substrates-II: Strain Hardening-Softening Oscillations in Subsurface Layer

INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO

Cita

Uldis Kanders
Institute of Mechanical Engineering, Riga Technical UniversityRiga, Latvia
Karlis Kanders
Institute of Neuroinformatics, University & ETH of ZurichZurich, Switzerland
eISSN:
0868-8257
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Physics, Technical and Applied Physics