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Nanoindentation Response analysis of Thin Film Substrates-I: Strain Gradient-Divergence Approach

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Cita

U. Kanders
Institute of Mechanical Engineering, Riga Technical University, 6 Ezermalas Str., LV-1006, Riga, Latvia
K. Kanders
Institute of Neuroinformatics, University & ETH of Zurich, 190 Winterthurerstr., CH-8057 Zurich, Switzerland
eISSN:
0868-8257
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Physics, Technical and Applied Physics