Skip to content
Pubblica & Distribuisci
Soluzioni Editoriali
Soluzioni di Distribuzione
Servizi bibliotecari
Temi
Architettura e design
Arti
Business e Economia
Chimica
Chimica industriale
Farmacia
Filosofia
Fisica
Geoscienze
Ingegneria
Interesse generale
Legge
Letteratura
Linguistica e semiotica
Matematica
Medicina
Musica
Scienze bibliotecarie e dell'informazione, studi library
Scienze dei materiali
Scienze della vita
Scienze informatiche
Scienze sociali
Sport e tempo libero
Storia
Studi classici e del Vicino Oriente antico
Studi culturali
Studi ebraici
Teologia e religione
Pubblicazioni
Riviste
Libri
Atti
Editori
Journal Matcher
Blog
Contatti
Cerca
Italiano
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrello
Home
Riviste
Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Volume 54 (2017): Numero 1 (Febbraio 2017)
Accesso libero
Nanoindentation Response analysis of Thin Film Substrates-I: Strain Gradient-Divergence Approach
U. Kanders
U. Kanders
Cerca questo autore su
Sciendo
|
Google Scholar
Kanders, U.
e
K. Kanders
K. Kanders
Cerca questo autore su
Sciendo
|
Google Scholar
Kanders, K.
30 mar 2017
Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Volume 54 (2017): Numero 1 (Febbraio 2017)
INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO
Articolo precedente
Articolo Successivo
Sommario
Bibliografia
Autori
Articoli in questo Numero
Anteprima
PDF
Cita
CONDIVIDI
Scarica la copertina
Pubblicato online:
30 mar 2017
Pagine:
66 - 76
DOI:
https://doi.org/10.1515/lpts-2017-0007
Parole chiave
elastic-plastic deformation
,
nanoindentation
,
strain gradient plasticity
,
stress-strain field
,
true hardness
,
true elastic modulus
© 2017 U. Kanders et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
