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Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Volume 53 (2016): Numero 2 (Aprile 2016)
Accesso libero
Study of Copper Nitride Thin Film Structure
A. Kuzmin
A. Kuzmin
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Kalendarev, R.
20 mag 2016
Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Volume 53 (2016): Numero 2 (Aprile 2016)
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Pubblicato online:
20 mag 2016
Pagine:
31 - 37
DOI:
https://doi.org/10.1515/lpts-2016-0011
Parole chiave
copper nitride
,
thin film
,
x-ray diffraction
,
x-ray absorption spectroscopy
© 2016 A. Kuzmin et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
