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Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Volumen 53 (2016): Edición 2 (Abril 2016)
Acceso abierto
Study of Copper Nitride Thin Film Structure
A. Kuzmin
A. Kuzmin
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R. Kalendarev
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20 may 2016
Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Volumen 53 (2016): Edición 2 (Abril 2016)
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Publicado en línea:
20 may 2016
Páginas:
31 - 37
DOI:
https://doi.org/10.1515/lpts-2016-0011
Palabras clave
copper nitride
,
thin film
,
x-ray diffraction
,
x-ray absorption spectroscopy
© 2016 A. Kuzmin et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
