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Journal of Electrical Engineering
Volume 68 (2017): Numero 7 (December 2017)
Accesso libero
Investigation of deep defects in nanocrystalline-Si/Si interfaces using acoustic spectroscopy
Peter Bury
Peter Bury
,
Štefan Hardoň
Štefan Hardoň
,
Hikaru Kobayashi
Hikaru Kobayashi
e
Kento Imamura
Kento Imamura
| 29 dic 2017
Journal of Electrical Engineering
Volume 68 (2017): Numero 7 (December 2017)
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Pubblicato online:
29 dic 2017
Pagine:
43 - 47
Ricevuto:
23 apr 2017
DOI:
https://doi.org/10.1515/jee-2017-0054
Parole chiave
nanocrystalline-Si/Si interfaces
,
acoustic DLTS
,
deep defects
© 2017 Peter Bury et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Peter Bury
Department of Physics, Faculty of Electrical Engineering, University of Žilina
Žilina, Slovakia
Štefan Hardoň
Department of Physics, Faculty of Electrical Engineering, University of Žilina
Žilina, Slovakia
Hikaru Kobayashi
Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, CREST, Japan Science and Technology Organization
Osaka, Japan
Kento Imamura
Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, CREST, Japan Science and Technology Organization
Osaka, Japan