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Research Papers Faculty of Materials Science and Technology Slovak University of Technology
Édition 26 (2018): Edition 43 (September 2018)
Accès libre
Trace Elements Analysis by Pixe Spectroscopy
Matúš Beňo
Matúš Beňo
,
Jozef Dobrovodský
Jozef Dobrovodský
,
Dušan Vaňa
Dušan Vaňa
,
Stanislav Minárik
Stanislav Minárik
et
Róbert Riedlmajer
Róbert Riedlmajer
| 23 févr. 2019
Research Papers Faculty of Materials Science and Technology Slovak University of Technology
Édition 26 (2018): Edition 43 (September 2018)
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Publié en ligne:
23 févr. 2019
Pages:
25 - 32
Reçu:
04 juin 2018
Accepté:
13 déc. 2018
DOI:
https://doi.org/10.2478/rput-2018-0027
Mots clés
PIXE
,
trace elements
,
ion beam
,
aerosol
,
geometric efficiency
© 2018 Matúš Beňo et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.