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Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Édition 51 (2014): Edition 3 (Juin 2014)
Accès libre
Investigation of Silicon Carbide Polytypes by Raman Spectroscopy
G. Chikvaidze
G. Chikvaidze
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Chikvaidze, G.
,
N. Mironova-Ulmane
N. Mironova-Ulmane
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Mironova-Ulmane, N.
,
A. Plaude
A. Plaude
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Plaude, A.
et
O. Sergeev
O. Sergeev
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Sergeev, O.
16 juil. 2014
Latvian Journal of Physics and Technical Sciences
Édition 51 (2014): Edition 3 (Juin 2014)
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Publié en ligne:
16 juil. 2014
Pages:
51 - 57
DOI:
https://doi.org/10.2478/lpts-2014-0019
Mots clés
Silicon carbide (SiC)
,
polytypes
,
Raman spectroscopy
,
X-ray diffraction (XRD)
© by G. Chikvaidze
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
