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International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Édition 24 (2014): Edition 2 (June 2014)
Accès libre
Bivariate Hahn moments for image reconstruction
Haiyong Wu
Haiyong Wu
et
Senlin Yan
Senlin Yan
| 26 juin 2014
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Édition 24 (2014): Edition 2 (June 2014)
Signals and Systems (special section, pp. 233-312), Ryszard Makowski and Jan Zarzycki (Eds.)
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Publié en ligne:
26 juin 2014
Pages:
417 - 428
Reçu:
01 mai 2013
Accepté:
13 déc. 2013
DOI:
https://doi.org/10.2478/amcs-2014-0032
Mots clés
bivariate Hahn moments
,
bivariate Hahn polynomials
,
image reconstruction
,
pattern recognition
© 2014 Haiyong Wu and Senlin Yan
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Haiyong Wu
Senlin Yan
School of Mathematics and Information Technology Xiaozhuang University, 211171 Nanjing, China