Evaluation of AlGaN/GaN heterostructures properties by QMSA and AFM techniques
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15 dic 2013
Acerca de este artículo
Publicado en línea: 15 dic 2013
Páginas: 543 - 547
DOI: https://doi.org/10.2478/s13536-013-0135-3
Palabras clave
© 2013 Wroclaw University of Technology
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Szyszka, Adam
Wośko, Mateusz
Paszkiewicz, Bogdan
Tłaczała, Marek